步入式恒溫恒濕(shī)試驗室用途及執行與滿(mǎn)足标準

一、步入式恒溫恒濕(shī)試(shì)驗室用途

    适用於(yú)電工、電子、儀器儀表及其它産品、零部件及材料在高低溫交變(biàn)濕熱環境下貯存、運輸、使用時的适應性試驗；

    是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐幹性試驗及品管工程的可靠性測(cè)試設備(bèi)；

    可編(biān)程恒溫恒濕試驗箱特别适用於(yú)光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等産品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環試驗。

二、步入式恒溫恒濕試驗室執行與滿足标準

GB/T10589-1989低溫試(shì)驗箱技術(shù)條件；

GB/T10586-1989濕(shī)熱(rè)試驗箱技術條件；

GB/T10592-1989高低溫試(shì)驗箱技術(shù)條件；

GB2423.1-89低溫(wēn)試(shì)驗Aa，Ab；

GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕(shī)熱(rè)試驗Ca；

MIL-STD810D方法502.2；

GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；

GJB150.9-8濕(shī)熱(rè)試驗；

GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕(shī)度組合循環(huán)試驗。